发明名称 | 计算机存储设备和串行IO端口的多点测试 | ||
摘要 | 一种用于计算机存储设备的多点测试的方法和装置。一种测试计算机存储设备的方法的实施例包括耦合多个存储设备,每个存储设备具有串化器输出端以及解串器输入端,其中第一存储设备的串化器输出端与多个存储设备的存储设备中一或多个的解串器输入端相耦合。该方法进一步包括使用每个存储设备的测试生成器产生测试信号模式、在每个存储设备处将测试信号模式串行化、并且将经串行化的测试模式进行传输用于测试存储设备,其中存储设备的测试包括第一测试方式以及第二测试方式。 | ||
申请公布号 | CN103140836B | 申请公布日期 | 2016.03.09 |
申请号 | CN201180005563.4 | 申请日期 | 2011.01.03 |
申请人 | 美国莱迪思半导体公司 | 发明人 | 薛真成 |
分类号 | G06F11/267(2006.01)I | 主分类号 | G06F11/267(2006.01)I |
代理机构 | 上海专利商标事务所有限公司 31100 | 代理人 | 姬利永 |
主权项 | 一种测试计算机存储设备的方法,包括:耦合多个存储设备,每个存储设备具有串化器输出端以及解串器输入端,其中第一存储设备的串化器输出端与所述多个存储设备的存储设备中的一或多个的解串器输入端相耦合;使用每个存储设备的测试生成器产生测试信号模式;以及在每个存储设备处将测试信号模式串行化,并且传输经串行化的测试模式用于测试所述多个存储设备,其中存储设备的测试包括第一测试方式和第二测试方式,其中第一测试方式是串行IO(输入‑输出)测试方式,并且第二测试方式是存储器接口测试方式,其中串行IO测试方式与存储器接口测试方式是分离的,并且其中用于串行IO测试方式的测试模式包括对存储器接口测试方式未授权的测试模式,并且要求用于存储器接口测试方式的测试模式服从用于受测试的存储设备的协议。 | ||
地址 | 美国俄勒冈州 |