发明名称 | 光学传感器和图像形成装置 | ||
摘要 | 公开一种光学传感器,包括:照射系统;第一光电检测系统,包括布置在从被摄体镜面反射的光的光学路径上的第一光电检测器;第二光电检测系统,包括布置在于被摄体的入射面内从被摄体漫反射的光的光学路径上且分离与第一偏振方向正交的第二偏振方向的线性偏振分量的光学元件和接收由光学元件分离的光的第二光电检测器;以及限制构件,布置在关于第一光电检测器和第二光电检测器中的至少一个的入射光的光学路径上并且限制至少一个光电检测器的光接收范围。 | ||
申请公布号 | CN103257544B | 申请公布日期 | 2016.03.09 |
申请号 | CN201310139485.8 | 申请日期 | 2013.02.20 |
申请人 | 株式会社理光 | 发明人 | 星文和;菅原悟;石井稔浩;大场义浩 |
分类号 | G03G15/00(2006.01)I | 主分类号 | G03G15/00(2006.01)I |
代理机构 | 北京市柳沈律师事务所 11105 | 代理人 | 郭定辉 |
主权项 | 一种光学传感器,包括:照射系统,从相对于表面的法线方向倾斜的入射方向朝被摄体的表面照射第一偏振方向的线性偏振光;第一光电检测系统,包括布置在从被摄体镜面反射的光的光学路径上的第一光电检测器;第二光电检测系统,包括布置在于被摄体的入射面内从被摄体漫反射的光的光学路径上且分离与第一偏振方向正交的第二偏振方向的线性偏振分量的光学元件和接收由光学元件分离的光的第二光电检测器;以及限制构件,布置在关于第一光电检测器和第二光电检测器中的至少一个的入射光的光学路径上并且限制第一光电检测器和第二光电检测器中的所述至少一个的光接收范围,其中限制构件包括第二限制构件,第二限制构件布置在入射到第二光电检测器上的光的光学路径上;而且第二限制构件具有开口,所述开口具有其中第一偏振方向的长度小于第二偏振方向的长度的形状。 | ||
地址 | 日本东京都 |