发明名称 | 用于多芯片器件的热增强结构 | ||
摘要 | 本发明涉及一种多芯片半导体器件,该器件包括热增强结构、第一半导体芯片、第二半导体芯片、形成在第一半导体芯片和第二半导体芯片上的顶部上的封装材料层。该多芯片半导体器件进一步包括形成在封装层中的多个热通孔。该热增强结构包括与第一半导体管芯相接合的散热器模块。该散热器模块可以进一步包括多种热通孔和热开口。通过使用热增强结构,改进了多芯片半导体器件的热性能。本发明还提供了一种用于多芯片器件的热增强结构。 | ||
申请公布号 | CN102983109B | 申请公布日期 | 2016.03.09 |
申请号 | CN201210187435.2 | 申请日期 | 2012.06.07 |
申请人 | 台湾积体电路制造股份有限公司 | 发明人 | 余振华;董志航;邵栋梁 |
分类号 | H01L23/367(2006.01)I | 主分类号 | H01L23/367(2006.01)I |
代理机构 | 北京德恒律治知识产权代理有限公司 11409 | 代理人 | 章社杲;孙征 |
主权项 | 一种用于多芯片器件的热增强结构,包括:散热器模块,具有与第一半导体管芯相接合的第一表面并具有多个开口;所述第一半导体管芯,与第二半导体管芯相连接;封装材料层,位于所述半导体管芯和所述第二半导体管芯中的至少一个上;再分配层,形成在所述封装材料层上,并且与所述第二半导体管芯相连接;以及多个热通孔,与所述散热器模块的第二表面相连接,所述热通孔嵌入所述封装材料层中。 | ||
地址 | 中国台湾新竹 |