发明名称 | 一种基于椭偏度测量的滚转角误差测量方法和装置 | ||
摘要 | 本发明公开了一种基于椭偏度测量的滚转角误差测量方法,包括二分之一波片处于被测件上的第一位置时,将线偏光入射到与被测件滑动配合的二分之一波片内,透过二分之一波片的线偏光经四分之一波片形成椭偏光,所述椭偏光再照射到旋转的检偏器上,分析检偏器出射光束的光强变化得到第一椭偏度;将二分之一波片移至第二位置,根据与第一椭偏度同样的方法得到第二椭偏度,比较分析第一椭偏度和第二椭偏度,得到被测件的第一位置和第二位置之间的滚转角误差。本发明还公开了一种基于椭偏度测量的滚转角误差测量装置。 | ||
申请公布号 | CN103162645B | 申请公布日期 | 2016.03.09 |
申请号 | CN201310073479.7 | 申请日期 | 2013.03.08 |
申请人 | 浙江大学 | 发明人 | 匡方;修鹏;刘旭;葛剑虹 |
分类号 | G01B11/26(2006.01)I | 主分类号 | G01B11/26(2006.01)I |
代理机构 | 杭州天勤知识产权代理有限公司 33224 | 代理人 | 胡红娟 |
主权项 | 一种基于椭偏度测量的滚转角误差测量方法,其特征在于,包括以下步骤:1)二分之一波片处于被测件上的第一位置时,线偏光入射到二分之一波片,透过二分之一波片的线偏光经四分之一波片形成椭偏光,所述椭偏光再照射到旋转的检偏器上,分析检偏器出射光束的光强变化得到第一椭偏度;所述的线偏光与二分之一波片的快轴夹角为0°,所述四分之一波片的快轴与二分之一波片的快轴平行;2)二分之一波片沿被测件滑动至第二位置时,线偏光入射到二分之一波片,透过二分之一波片的线偏光经四分之一波片形成椭偏光,所述椭偏光再照射到旋转的检偏器上,分析检偏器出射光束的光强变化得到第二椭偏度;3)比较分析第一椭偏度和第二椭偏度,得到被测件的第一位置和第二位置之间的滚转角误差。 | ||
地址 | 310027 浙江省杭州市西湖区浙大路38号 |