发明名称 PAM送信機におけるジッタを測定する方法、送信された信号における歪みを測定する方法、抑制のための歪み測定、PAM送信機における偶数−奇数ジッタを測定する方法、クロックランダムジッタおよびクロック確定ジッタを計算する試験装置
摘要 Methods and test equipment for measuring jitter in a Pulse Amplitude Modulated (PAM) transmitter. Under one procedure, a first two-level PAM signal test pattern is used to measure clock-related jitter separated into random and deterministic components, while a second two-level PAM signal test pattern is used to measure oven-odd jitter (EOJ). Under another procedure, A four-level PAM signal test pattern is used to measure jitter-induced noise using distortion analysis. Test equipment are also disclosed for implementing various aspects of the test methods.
申请公布号 JP5878988(B2) 申请公布日期 2016.03.08
申请号 JP20140552407 申请日期 2013.06.24
申请人 インテル・コーポレーション 发明人 ラン、アデー オー.
分类号 H04B17/15;G01R29/02;H04L27/02 主分类号 H04B17/15
代理机构 代理人
主权项
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