发明名称 | 衬底处理装置和半导体器件的制造方法 | ||
摘要 | 本发明的课题在于使形成在衬底上的膜厚和膜的特性在衬底面内不同,并使生产能力提高。本发明涉及衬底处理装置及半导体器件的制造方法,衬底处理装置具有:收纳衬底的处理室;从衬底上方供给第一处理气体的第一处理气体供给部;从衬底上方供给第一反应气体的第一反应气体供给部;从衬底侧方供给第二处理气体的第二处理气体供给部;从衬底侧方供给第二反应气体的第二反应气体供给部;和控制部,其以如下方式控制:在处理气体供给工序和反应气体供给工序中的任一工序或者两个工序中,使向衬底中心侧供给的处理气体供给量与向衬底外周侧供给的处理气体供给量不同、或者使向衬底中心侧供给的反应气体供给量与向衬底外周侧供给的反应气体供给量不同。 | ||
申请公布号 | CN105374704A | 申请公布日期 | 2016.03.02 |
申请号 | CN201410504987.0 | 申请日期 | 2014.09.26 |
申请人 | 株式会社日立国际电气 | 发明人 | 丰田一行;松井俊 |
分类号 | H01L21/67(2006.01)I | 主分类号 | H01L21/67(2006.01)I |
代理机构 | 北京市金杜律师事务所 11256 | 代理人 | 杨宏军;王大方 |
主权项 | 一种衬底处理装置,其特征在于,具有:收纳衬底的处理室;从所述衬底的上方供给第一处理气体的第一处理气体供给部;从所述衬底的上方供给第一反应气体的第一反应气体供给部;从所述衬底的侧方供给第二处理气体的第二处理气体供给部;从所述衬底的侧方供给第二反应气体的第二反应气体供给部;和控制部,该控制部具有:向所述衬底供给所述第一处理气体和所述第二处理气体的处理气体供给工序、向所述衬底供给所述第一反应气体和所述第二反应气体的反应气体供给工序、以及将所述处理气体供给工序和所述反应气体供给工序进行一次以上的工序,并且,所述控制部以如下方式控制所述第一处理气体供给部、所述第二处理气体供给部、所述第一反应气体供给部、和所述第二反应气体供给部:在所述处理气体供给工序和所述反应气体供给工序中的任一工序或者两个工序中,使向所述衬底的中心侧供给的处理气体供给量与向所述衬底的外周侧供给的处理气体供给量不同、或者使向所述衬底的中心侧供给的反应气体供给量与向所述衬底的外周侧供给的反应气体供给量不同。 | ||
地址 | 日本东京都 |