芯片频率的测试方法、装置及系统

摘要

本发明实施例公开了一种芯片频率的测试方法、装置及系统，涉及电学领域，能够提高芯片频率的测试结果的可靠性，并且降低芯片的生产成本。该方法包括：获取与芯片的各有效路径对应的各个功能测试向量；将各个所述功能测试向量的格式转换为自动测试仪器支持的格式；将转换后的各个所述功能测试向量存储入所述芯片的内存中，以使所述自动测试仪器运行存储于所述芯片的内存中的各个所述功能测试向量并获得所述芯片在分别运行各个所述功能测试向量时的各最高频率。

主权项

一种芯片频率的测试方法，其特征在于，包括：获取与芯片的各测试路径对应的各个功能测试向量，所述测试路径包括关键路径和有效路径；将各个所述功能测试向量的格式转换为自动测试仪器支持的格式；具体地，将各个功能测试向量的时钟调整为与所述自动测试仪器的时钟严格同步；将转换后的各个所述功能测试向量存储入所述芯片或板级系统的内存中，以使所述自动测试仪器运行存储于所述芯片或板级系统的内存中的各个所述功能测试向量并获得所述芯片在分别运行各个所述功能测试向量时的各最高频率；所述获取与芯片的各测试路径对应的各功能测试向量包括：根据对所述芯片静态时序分析的结果，选出所述芯片的关键路径，并获取与所述关键路径对应的功能测试向量；所述获取与芯片的各测试路径对应的各功能测试向量还包括：获取所述芯片上的多条有效路径，所述多条有效路径均匀分布在所述芯片上，并获取与所述多条有效路径各自对应的功能测试向量。