| 发明名称 | 用于电导率评估的磁耦合 | ||
| 摘要 | 本申请涉及用于电导率评估的磁耦合，本申请公开一种方法，该方法包括建立在发射线圈和接收线圈之间的被测的复合材料结构(SUT)。发射线圈由在多个频率上的RF信号来驱动，从而使发射线圈产生磁场，该磁场通过穿过SUT磁耦合在接收线圈中感应电压。接收线圈上的电压被测量，并且根据该电压产生由发射线圈和接收线圈之间的SUT引起的RF信号的衰减的测量值。而且SUT的有效导电率根据衰减的测量值被计算。 | ||
| 申请公布号 | CN105372497A | 申请公布日期 | 2016.03.02 |
| 申请号 | CN201510501175.5 | 申请日期 | 2015.08.14 |
| 申请人 | 波音公司 | 发明人 | D·K·达波尔斯特因;A·M·罗柏;A·M·布朗 |
| 分类号 | G01R27/02(2006.01)I | 主分类号 | G01R27/02(2006.01)I |
| 代理机构 | 北京纪凯知识产权代理有限公司 11245 | 代理人 | 赵蓉民;王爽 |
| 主权项 | 一种系统(100)，其包括：发射线圈(102)和接收线圈(104)，所述发射线圈(102)和所述接收线圈(104)被配置为接收在它们之间的被测的复合材料结构即SUT(106)；信号发生器(108)，其被配置为利用在多个频率上的射频信号即RF信号驱动所述发射线圈(102)，从而使发射电磁线圈产生通过穿过所述SUT(106)的磁耦合在所述接收线圈(104)中感应电压的磁场；耦合到所述发射线圈(102)和所述接收线圈(104)的接收器对(110，112)和信号处理电路，并且所述接收器对(110，112)和所述信号处理电路被配置为测量在所述接收线圈(104)中的电压，并且从所述电压产生由所述发射线圈(102)和所述接收线圈(104)之间的所述SUT(106)引起的所述多个频率上的所述RF信号的衰减的测量值；以及分析系统(122)，其耦合到所述信号处理电路并且被配置为根据所述衰减的测量值计算所述SUT(106)的有效电导率。 | ||
| 地址 | 美国伊利诺伊州 | ||