发明名称 |
自动光学检测方法及设备 |
摘要 |
本发明实施例公开了一种自动光学检测方法及设备,涉及显示技术领域,能够在自动光学检测过程中,避免出现光强和待检测基板不适应的情况,从而保证自动检测结果的准确性。本发明实施例提供的自动光学检测方法,包括:在待检测基板上形成动态光强标记,所述动态光强标记包括样品标记部分和基准标记部分;根据所述动态光强标记的图像信息获取检测光强,所述检测光强为使得所述基准标记部分最明显的光强;利用所述检测光强对所述待检测基板进行检测。本发明实施例还提供了一种适用于上述自动光学检测方法的自动光学检测设备。 |
申请公布号 |
CN103558224B |
申请公布日期 |
2016.03.02 |
申请号 |
CN201310573849.3 |
申请日期 |
2013.11.14 |
申请人 |
京东方科技集团股份有限公司;北京京东方显示技术有限公司 |
发明人 |
葛永利;齐勤瑞 |
分类号 |
G01N21/88(2006.01)I |
主分类号 |
G01N21/88(2006.01)I |
代理机构 |
北京中博世达专利商标代理有限公司 11274 |
代理人 |
申健 |
主权项 |
一种自动光学检测方法,其特征在于,包括:在待检测基板上形成动态光强标记,所述动态光强标记包括样品标记部分和基准标记部分;根据所述动态光强标记的图像信息获取检测光强,所述检测光强为使得所述基准标记部分最明显的光强;利用所述检测光强对所述待检测基板进行检测;所述样品标记部分包括第一彩色滤色层和第一遮光层;所述基准标记部分包括第二遮光层。 |
地址 |
100015 北京市朝阳区酒仙桥路10号 |