发明名称 |
自动分析装置 |
摘要 |
为了确认光量变动,从光源的正面进行检测的结构是最佳的,然而在存在有多个光源的情况下,需要与光源的数量相应的光量检查用的检测器,从而导致装置结构复杂化。在多个检测部所共同使用的反应容器运送机构(117)设置光源光量检查用检测器(130),通过该检测器(130)进行光源(124)的光量检查。 |
申请公布号 |
CN104335051B |
申请公布日期 |
2016.03.02 |
申请号 |
CN201380027466.4 |
申请日期 |
2013.05.24 |
申请人 |
株式会社日立高新技术 |
发明人 |
吉川惠子;牧野彰久 |
分类号 |
G01N35/00(2006.01)I;G01N21/01(2006.01)I;G01N21/49(2006.01)I;G01N21/82(2006.01)I;G01N35/04(2006.01)I |
主分类号 |
G01N35/00(2006.01)I |
代理机构 |
中科专利商标代理有限责任公司 11021 |
代理人 |
刘建 |
主权项 |
一种自动分析装置,其特征在于,具备:多个检测部,其具备载置供试料与试剂发生反应的反应容器的反应容器设置部;光源,其设置于所述反应容器设置部的底部,并照射光;第一检测器,其设置于所述反应容器设置部,并对从所述光源照射的光的来自所述反应容器的散射光进行检测;反应容器运送机构,其把持所述反应容器,进行所述反应容器的运送以及设置,并共用于所述多个检测部;第二检测器,其设置于所述反应容器运送机构,并对从所述光源照射的光进行检测;辅助工具,其为能够对从所述光源照射的光进行检测并且屏蔽来自外部的光的材料以及形状,所述辅助工具被所述反应容器运送机构把持,运送至所述光源的上方,在屏蔽了来自外部的光的状态下,通过所述第二检测器对从所述光源照射的光进行检测。 |
地址 |
日本东京都 |