发明名称 |
具备亚阈值势垒的HEMT外延结构 |
摘要 |
本发明提供了一种具备亚阈值势垒的HEMT外延结构。其包括由下至上依次形成的Si衬底、SiN/AlN成核层、GaN缓冲层和外延层,GaN缓冲层用于吸收Si衬底与外延层之间因晶格失配产生的应力,外延层包括由下至上依次形成的AlN/GaN超晶格隔离层、GaN掺杂层、GaN沟道层、AlN势垒层和GaN帽层,GaN掺杂层中的掺杂物为Mg。本发明能够实现毫米波段的应用。 |
申请公布号 |
CN105374870A |
申请公布日期 |
2016.03.02 |
申请号 |
CN201510813225.3 |
申请日期 |
2015.11.20 |
申请人 |
成都嘉石科技有限公司 |
发明人 |
黎明 |
分类号 |
H01L29/778(2006.01)I;H01L29/06(2006.01)I;H01L29/205(2006.01)I;H01L21/02(2006.01)I |
主分类号 |
H01L29/778(2006.01)I |
代理机构 |
成都华风专利事务所(普通合伙) 51223 |
代理人 |
胡川 |
主权项 |
一种具备亚阈值势垒的HEMT外延结构,其特征在于,包括由下至上依次形成的Si衬底、SiN/AlN成核层、GaN缓冲层和外延层,所述GaN缓冲层用于吸收所述Si衬底与所述外延层之间因晶格失配产生的应力,所述外延层包括由下至上依次形成的AlN/GaN超晶格隔离层、GaN掺杂层、GaN沟道层、AlN势垒层和GaN帽层,所述GaN掺杂层中的掺杂物为Mg。 |
地址 |
610000 四川省成都市双流县西南航空港经济开发区物联网产业园内 |