发明名称 实时测量物体变形的方法和系统
摘要 本发明提供了一种实时测量物体变形的方法和系统,涉及测量领域。所述方法包括:选取两个激光器作为光源;将两束激光经第一半透半反镜调整至共路并照射到空间滤波器;所述一束激光经过所述空间滤波器的滤波和扩束,照射到第二半透半反镜,形成透射光和反射光;所述透射光照射在被测物上,经所述被测物反射,并被第二半透半反镜反射后,照射至电荷耦合元件CCD摄像头;所述反射光照射在参考物上,经所述参考物反射,并被第二半透半反镜透射,照射至CCD摄像头;照射至CCD摄像头的两束光重合产生干涉,生成干涉图;调整所述第二半透半反镜的角度;根据干涉图,计算得到所述被测物的基于时间的形变量。本发明采用双波长的方式实时测量物体的变形。
申请公布号 CN105371777A 申请公布日期 2016.03.02
申请号 CN201510716357.4 申请日期 2015.10.29
申请人 北京交通大学 发明人 高瞻;秦洁;张小琼
分类号 G01B11/16(2006.01)I 主分类号 G01B11/16(2006.01)I
代理机构 北京市商泰律师事务所 11255 代理人 毛燕生
主权项 一种实时测量物体变形的方法,其特征在于,包括:选取波长不同的两个激光器作为光源;将所述两个激光器的两束激光经第一半透半反镜调整至共路,使得所述两束激光合成一束激光,并照射到空间滤波器;所述一束激光经过所述空间滤波器的滤波和扩束,照射到第二半透半反镜;扩束后的所述激光经所述第二半透半反镜,形成透射光和反射光;所述透射光照射在被测物上,经所述被测物反射,并被第二半透半反镜反射后,经过成像镜头照射至电荷耦合元件CCD摄像头;所述反射光照射在参考物上,经所述参考物反射,并被所述第二半透半反镜透射,经过所述成像镜头照射至所述CCD摄像头;照射至所述CCD摄像头的两束光重合产生干涉,经过所述成像镜头在所述CCD摄像头上生成干涉图;调整所述第二半透半反镜的角度,使得所述干涉图中的两个波长的条纹互相平行;根据所述干涉图,计算得到所述被测物的基于时间的形变量。
地址 100044 北京市海淀区西直门外上园村3号