发明名称 红外摄像装置的死点校正方法、系统及校正系统
摘要 本发明提供一种红外摄像装置的死点校正方法、系统及校正系统。其中,所述方法包括:获取预设时长内,所述黑体提供的对应多个温度测试点的温度采样值、以及所述红外摄像装置提供的对应同一温度测试点的至少一帧图像数据;基于各温度测试点的温度采样值、和/或对应各温度测试点的各帧图像数据的噪声,确定是否重新获取相应温度测试点的温度采样值及各帧图像数据;当确定为否时,基于所述红外摄像装置中各像素点的温度测试点-像素点的响应均匀性,来确定各像素点是否为死点;采用插值的方式,利用确定为死点周围的像素点的像素值对相应的死点进行校正。本发明能够有效提高了死点校正的准确性。
申请公布号 CN105376499A 申请公布日期 2016.03.02
申请号 CN201510924059.4 申请日期 2015.12.11
申请人 上海兴芯微电子科技有限公司 发明人 江浩;张晨迪
分类号 H04N5/235(2006.01)I;H04N5/238(2006.01)I;H04N5/33(2006.01)I 主分类号 H04N5/235(2006.01)I
代理机构 北京品源专利代理有限公司 11332 代理人 孟金喆;胡彬
主权项 一种红外摄像装置的死点校正方法,用于包含黑体、红外摄像装置和校正装置所构成的系统,其特征在于,包括:获取预设时长内,所述黑体提供的对应多个温度测试点的温度采样值、以及所述红外摄像装置提供的对应同一温度测试点的至少一帧图像数据;基于各温度测试点的温度采样值、和/或对应各温度测试点的各帧图像数据的噪声,确定是否重新获取相应温度测试点的温度采样值及各帧图像数据;当确定为否时,基于所述红外摄像装置中各像素点的温度测试点‑像素点的响应均匀性,来确定各像素点是否为死点;采用插值的方式,利用确定为死点周围的像素点的像素值对相应的死点进行校正。
地址 201203 上海市浦东新区张江高科技园区芳春路400号1幢3层
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