| 发明名称 | 周期测量电路和包括该周期测量电路的半导体装置 | ||
| 摘要 | 本发明公开一种半导体装置，包括：计数检测块，其用于在计数器启用区段期间产生通过第一传送路径传送的时钟信号的计数值和通过第二传送路径传送的目标信号的计数值，并基于通过将预定代码值与时钟信号的计数值进行比较所获得的比较结果来阻断第一传送路径和第二传送路径；以及输出块，其用于基于测试模式信号将对应于第一传送路径和第二传送路径被阻断时的目标信号的计数值输出到预定焊盘。 | ||
| 申请公布号 | CN105372488A | 申请公布日期 | 2016.03.02 |
| 申请号 | CN201510387125.9 | 申请日期 | 2015.07.03 |
| 申请人 | 爱思开海力士有限公司 | 发明人 | 韩慜植 |
| 分类号 | G01R23/02(2006.01)I;G01R23/10(2006.01)I | 主分类号 | G01R23/02(2006.01)I |
| 代理机构 | 北京路浩知识产权代理有限公司 11002 | 代理人 | 张晶;王莹 |
| 主权项 | 一种半导体装置，包括：计数检测块，其用于在计数器启用区段期间产生通过第一传送路径传送的时钟信号的计数值和通过第二传送路径传送的目标信号的计数值，并基于通过将预定代码值与所述时钟信号的所述计数值进行比较所获得的比较结果来阻断所述第一传送路径和所述第二传送路径；以及输出块，其用于基于测试模式信号将对应于所述第一传送路径和所述第二传送路径被阻断时的时刻的目标信号的计数值输出到预定焊盘。 | ||
| 地址 | 韩国京畿道 | ||