发明名称 | 一种热红外高光谱成像仪盲元检测装置和方法 | ||
摘要 | 本发明涉及一种热红外高光谱成像仪盲元检测装置和方法,本发明装置由黑体控制器、辐射黑体、热红外高光谱成像仪和计算机模块组成,其中计算机模块包含数据采集单元和盲元检测单元,利用该装置通过步骤(1)将热红外高光谱成像仪对准黑体并充满视场,通过黑体控制器将黑体温度设置为N个(N≥30)不同的温度,待温度稳定后数据采集单元控制成像仪采集N组数据;(2)将N组数据按照温升进行波段叠加,生成温升黑体热红外高光谱数据;(3)采集非盲元温升光谱,通过光谱匹配途径进行盲元检测,标记盲元生成盲元检测结果。本发明从光谱维角度考虑实现热红外高光谱成像仪的盲元高精度检测,对热红外高光谱成像仪定标和数据预处理具有重要的作用。 | ||
申请公布号 | CN105372040A | 申请公布日期 | 2016.03.02 |
申请号 | CN201510864376.1 | 申请日期 | 2015.12.01 |
申请人 | 中国科学院上海技术物理研究所 | 发明人 | 张长兴;谢锋;刘成玉;邵红兰;刘智慧;杨贵 |
分类号 | G01M11/00(2006.01)I | 主分类号 | G01M11/00(2006.01)I |
代理机构 | 上海新天专利代理有限公司 31213 | 代理人 | 郭英 |
主权项 | 一种热红外高光谱成像仪盲元检测装置,装置包括黑体控制器、辐射黑体、热红外高光谱成像仪和计算机模块,其特征在于,其中计算机模块包含数据采集单元和盲元检测单元,数据采集单元控制热红外高光谱成像进行数据采集,实现数据记录,并由不同温度数据生成温升黑体热红外高光谱数据;盲元检测单元对温升黑体热红外高光谱数据基于光谱维检测,生成检测结果。 | ||
地址 | 200083 上海市虹口区玉田路500号 |