发明名称 一种用于测量柔性片状材料表面电阻的装置
摘要 本发明公开了一种用于测量柔性片状材料表面电阻的装置,其包括平行电极探头、导线、质量块和电阻仪,所述的平行电极探头设置在待测材料上,所述的质量块设置在平行电极探头的上方;且所述的平行电极探头与电阻仪通过导线相连接、在待测材料表面形成回路。本发明提供的用于测量柔性片状材料表面电阻的装置,测量灵敏度高、测试方便、且可消减体积电阻和表面污染造成的测试影响,具有极强的实用价值,适于广泛推广应用。
申请公布号 CN103529300B 申请公布日期 2016.03.02
申请号 CN201310503151.4 申请日期 2013.10.23
申请人 上海工程技术大学 发明人 黄时建;高琮
分类号 G01R27/02(2006.01)I 主分类号 G01R27/02(2006.01)I
代理机构 上海海颂知识产权代理事务所(普通合伙) 31258 代理人 何葆芳
主权项 一种用于测量柔性片状材料表面电阻的装置,其特征在于:包括平行电极探头、导线、质量块和电阻仪,所述的平行电极探头设置在待测材料上,所述的质量块设置在平行电极探头的上方;且所述的平行电极探头与电阻仪通过导线相连接、在待测材料表面形成回路;所述的平行电极探头包括片状刚性绝缘底板、敷贴于片状刚性绝缘底板上以一定几何形态延伸并相互平行的成对导电层、位于成对导电层之间且覆盖于片状刚性绝缘底板表面的防污绝缘层及成对导电层的引出线。
地址 201620 上海市松江区龙腾路333号