发明名称 |
Dispositivo para medir el espesor de acristalamientos |
摘要 |
Dispositivo para medir el espesor de acristalamientos sin desmontarlos, que comprende un elemento de fijación (1) al acristalamiento (7) y que está unido a una escala graduada (14) que a su vez está fijada a un soporte (2) de escala graduada, de manera que en una posición de uso, el soporte (2) de escala graduada forma un ángulo de 90º respecto al elemento de fijación (1), comprendiendo un emisor de haz láser (11) situado en un soporte de haz láser (3) que está unido al elemento de fijación (1) de manera que en la posición de uso forma 45º respecto del elemento de fijación (1), donde una proyección de haz láser sobre el acristalamiento (7) es reflejada en la escala graduada (14) permitiendo determinar el espesor de dicho acristalamiento (7). |
申请公布号 |
ES2561903(A1) |
申请公布日期 |
2016.03.01 |
申请号 |
ES20150031670 |
申请日期 |
2015.11.19 |
申请人 |
UNIVERSIDAD POLITECNICA DE MADRID |
发明人 |
CARRASCO ANDRES, Fidel;GIL LOPEZ, Tomás;GARCIA DE FRUTOS, Daniel |
分类号 |
G01B11/06 |
主分类号 |
G01B11/06 |
代理机构 |
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代理人 |
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主权项 |
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地址 |
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