发明名称 MULTI CHARGED PARTICLE BEAM WRITING DEVICE
摘要 멀티 하전 입자빔 묘화 장치는, 시료를 재치하는 스테이지와, 하전 입자빔을 방출하는 방출부와, 복수의 개구부가 형성되고, 상기 복수의 개구부 전체가 포함되는 개구부 형성 영역에 상기 하전 입자빔의 조사를 받아, 상기 복수의 개구부를 상기 하전 입자빔의 일부가 각각 통과함으로써 멀티빔을 형성하는 애퍼처 부재와, 자장이 반대 방향인 복수의 전자 렌즈와, 각 전자 렌즈의 자장 중에 적어도 1개씩 배치되고, 1개 이상이 멀티빔을 상기 시료 상으로 일괄하여 편향하는 편향기를 겸한 3개 이상의 정전 렌즈를 구비한 것을 특징으로 한다.
申请公布号 KR101598154(B1) 申请公布日期 2016.02.26
申请号 KR20130159130 申请日期 2013.12.19
申请人 가부시키가이샤 뉴플레어 테크놀로지 发明人 토우야 타카나오;오가사와라 무네히로
分类号 H01L21/027 主分类号 H01L21/027
代理机构 代理人
主权项
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