摘要 |
Verfahren zum Überprüfen der Funktion von elektrischen Anschlüssen (1a, 1b, 1c-1, 1c-2, 1c-3, ...) eines analogen oder digitalen Schaltkreises (2), bei dem ein Prüfstrom (I) mit zum Normalbetrieb des Schaltkreises (2) umgekehrter Polarität durch den Schaltkreis (2) geleitet wird, wobei an mindestens zwei unterschiedlichen elektrischen Anschlüssen (1a, 1b, 1c-1, 1c-2, 1c-3, ...) des Schaltkreises (2) jeweils eine elektrische Spannung abgegriffen wird und anhand dieser mindestens zwei abgegriffenen Spannungen, auf Basis eines Vergleichs dieser mindestens zwei Spannungen untereinander und/oder mit vorbestimmten Schwellwerten, auf eine korrekte oder nicht korrekte elektrische Funktion eines, mehrerer oder aller der elektrischen Anschlüsse (1a, 1b, 1c-1, 1c-2, 1c-3, ...) geschlossen wird, dadurch gekennzeichnet, dass zum Durchleiten des Prüfstroms (I) ein im Normalbetrieb des Schaltkreisen (2) als Minuspol fungierender, erster elektrischer Anschluss (1a) des Schaltkreises (2) auf ein erstes elektrisches Potential gelegt wird, ein im Normalbetrieb des Schaltkreises (2) als Pluspol fungieren der, zweiter elektrischer Anschluss (1b) des Schaltkreises (2) auf ein zweites elektrisches Potential gelegt wird und ein oder mehrere dritte(r) elektrische(r) Anschluss/Anschlüsse (1c-1, 1c-2, 1c-3, ...) des Schaltkreises (2) auf ein drittes elektrisches Potenzial gelegt wird/werden, wobei das erste elektrische Potential und das dritte elektrische Potential höher sind, als das zweite elektrische Potential, wobei der Prüfstrom (I) 1 mA oder weiniger beträgt. |