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Die Erfindung betrifft ein Interferometer, aufweisend: einen ersten Interferometerarm, und einen zweiten Interferometerarm, wobei der erste Interferometerarm und der zweite Interferometerarm so eingerichtet sind, dass ein von einem zentralen Bildpunkt eines abzubildenden Urbildes ausgehender erster Zentralstrahl den ersten Interferometerarm durchläuft, ein von dem zentralen Bildpunkt des abzubildenden Urbildes ausgehender zweiter Zentralstrahl den zweiten Interferometerarm durchläuft, wobei der erste Zentralstrahl und der zweite Zentralstrahl nach Durchlaufen des ersten bzw. zweiten Interferometerarms überlagert werden und an einem Überlagerungspunkt des ersten Zentralstrahls und des zweiten Zentralstrahls eine ksenkrecht = 0 – Interferenz erzeugen, ein von einem Bildpunkt des abzubildenden Urbildes ausgehender erster Lichtstrahl den ersten Interferometerarm durchläuft, und ein von dem Bildpunkt des abzubildenden Urbildes ausgehender zweiter Lichtstrahl den zweiten Interferometerarm durchläuft, wobei sich der erste Lichtstrahl und der zweite Lichtstrahl nach Durchlaufen des ersten bzw. zweiten Interferometerarms, an dem Überlagerungspunkt des ersten Zentralstrahls und des zweiten Zentralstrahls überlappen, und wobei an dem Überlagerungspunkt eine zum ersten Zentralstrahl senkrechte Wellenvektorkomponente des ersten Lichtstrahls und eine zum zweiten Zentralstrahl senkrechte Wellenvektorkomponente des zweiten Lichtstrahls entgegengesetzt sind. Ferner betrifft die Erfindung ein Verfahren zur Rekonstruktion eines Urbildes aus einem mit einem erfindungsgemäßen Interferometer gemessenen Bild. Ferner betrifft die Erfindung ein Verfahren zur Kalibrierung eines erfindungsgemäßen Interferometers. |
