发明名称 |
Integrierter Transistor |
摘要 |
Es ist ein integrierter Transistor für eine elektrische Vorrichtung, etwa eine DRAM-Speicherzelle, und ein Verfahren zur Herstellung desselben vorgesehen. Ein Graben wird in einem Substrat ausgebildet und ein Gate-Dielektrikum und eine Gate-Elektrode werden in dem Graben des Substrats ausgebildet. Source/Drain-Bereiche werden in dem Substrat auf gegenüberliegenden Seiten des Grabens ausgebildet. In einer Ausführungsform wird der Source- oder der Drain-Bereich mit einem Speicherknoten verbunden und der andere des Sourüce- und des Drain-Bereichs wird mit einer Bitleitung verbunden. In dieser Ausführungsform kann die Gate-Elektrode mit einer Wortleitung verbunden werden, um eine DRAM-Speicherzelle auszubilden. Ein dielektrischer Wachstumsmodifikator kann in Seitenwände des Grabens implantiert werden, um die Dicke des Gate-Dielektrikums einzustellen. |
申请公布号 |
DE102014112283(A1) |
申请公布日期 |
2016.02.25 |
申请号 |
DE201410112283 |
申请日期 |
2014.08.27 |
申请人 |
TAIWAN SEMICONDUCTOR MANUFACTURING COMPANY, LTD. |
发明人 |
TSAI, CHUN-YANG;TING, YU-WEI;HUANG, KUO-CHING |
分类号 |
H01L21/336;H01L21/283;H01L21/8242;H01L29/51;H01L29/78 |
主分类号 |
H01L21/336 |
代理机构 |
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代理人 |
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主权项 |
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地址 |
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