发明名称 | 发光装置的光量补偿检查方法 | ||
摘要 | 一种光量补偿检查方法,适用于包含多个发光元件的发光装置,其包含逐一对发光元件执行下列步骤:测量发光元件于基准时间区间内输出的原始光量;根据所测得的原始光量与基准光量产生对应发光元件的校正值;以及根据校正值调整发光元件的光输出,使原始光量达到目标光量。 | ||
申请公布号 | CN103488067B | 申请公布日期 | 2016.02.24 |
申请号 | CN201210312466.6 | 申请日期 | 2012.08.29 |
申请人 | 日昌电子股份有限公司 | 发明人 | 吉田治信;張子良;彭柏雄 |
分类号 | G03G15/043(2006.01)I | 主分类号 | G03G15/043(2006.01)I |
代理机构 | 北京律诚同业知识产权代理有限公司 11006 | 代理人 | 梁挥;常大军 |
主权项 | 一种发光装置的光量补偿检查方法,该发光装置包含多个发光元件,其特征在于,该光量补偿检查方法包含:逐一对该些发光元件执行下列步骤:测量该发光元件于一基准时间区间内输出的一原始光量;根据所测得的该原始光量与一基准光量产生对应该发光元件的一校正值;判断该校正值是否超出一合理范围,并输出一输出信号,该输出信号表示该发光装置为正常品或不良品;根据该校正值调整该发光元件的光输出,使该原始光量达到一目标光量;检测该目标光量与该基准光量是否相同,并输出该输出信号;以及若输出表示该发光装置为不良品的该输出信号,则结束该光量补偿检查方法;其中,该校正值为该发光元件的点亮持续时间,而以该点亮持续时间调整该原始光量为该目标光量。 | ||
地址 | 中国台湾新北市新店区宝桥路235巷132号6楼 |