发明名称 一种大型电工装备导体系统分布电容的测试方法
摘要 本发明提供了一种大型电工装备导体系统分布电容的测试方法,包括步骤1:对导体系统中所有的待测导体进行编号;步骤2:对导体系统进行单导体不接地测试;步骤3:对导体系统进行两导体不接地测试;步骤4:构建测量电容列向量;步骤5:构建待测电容列向量;步骤6:对待测电容列向量中各参数进行编码;步骤7:构建单导体不接地测试的系数矩阵;步骤8:对两导体不接地测试的测量电容进行编码;步骤9:构建两导体不接地测试的系数矩阵;步骤10:计算待测电容列向量的值。与现有技术相比,本发明提供的一种大型电工装备导体系统分布电容的测试方法,适用于多种大型电工装备的分布电容测试,可以有效抑制测量接线引入误差的影响。
申请公布号 CN105353224A 申请公布日期 2016.02.24
申请号 CN201510725081.6 申请日期 2015.10.29
申请人 国网智能电网研究院;中电普瑞电力工程有限公司;国家电网公司 发明人 刘杰;纪锋;董巍;张娟娟;高冲
分类号 G01R27/26(2006.01)I 主分类号 G01R27/26(2006.01)I
代理机构 北京安博达知识产权代理有限公司 11271 代理人 徐国文
主权项 一种大型电工装备导体系统分布电容的测试方法,其特征在于,所述方法包括:步骤1:对所述导体系统中所有的待测导体进行编号;所述导体系统包括n+1个导体,n至少为1;步骤2:对所述导体系统进行单导体不接地测试,得到n个测量电容值,所述测量电容值为<img file="FDA0000836049560000011.GIF" wi="213" he="70" />步骤3:对所述导体系统进行两导体不接地测试,得到N‑n个测量电容值,所述测量电容值为<img file="FDA0000836049560000012.GIF" wi="222" he="71" />N为所述导体系统中分布电容的数量,<img file="FDA0000836049560000013.GIF" wi="262" he="143" />步骤4:依据所述测量电容值,构建测量电容列向量C<sup>m</sup>,<maths num="0001" id="cmaths0001"><math><![CDATA[<mrow><msup><mi>C</mi><mi>m</mi></msup><mo>=</mo><msup><mrow><mo>&lsqb;</mo><msubsup><mi>C</mi><mn>1</mn><mi>m</mi></msubsup><mo>,</mo><msubsup><mi>C</mi><mn>2</mn><mi>m</mi></msubsup><mo>,</mo><mo>...</mo><msubsup><mi>C</mi><mi>n</mi><mi>m</mi></msubsup><mo>,</mo><msubsup><mi>C</mi><mrow><mi>n</mi><mo>+</mo><mn>1</mn></mrow><mi>m</mi></msubsup><mo>,</mo><mo>...</mo><msubsup><mi>C</mi><mi>N</mi><mi>m</mi></msubsup><mo>&rsqb;</mo></mrow><mi>T</mi></msup><mo>;</mo></mrow>]]></math><img file="FDA0000836049560000014.GIF" wi="740" he="95" /></maths>步骤5:依据所述测量电容列向量C<sup>m</sup>构建待测电容列向量C<sup>D</sup>;步骤6:对所述待测电容列向量C<sup>D</sup>中各参数进行编码,得到编码矩阵E<sup>C</sup>;步骤7:构建所述单导体不接地测试的系数矩阵K<sup>a</sup>;步骤8:对所述两导体不接地测试的测量电容进行编码,得到编号矩阵E<sup>m</sup>;步骤9:构建所述两导体不接地测试的系数矩阵K<sup>b</sup>;步骤10:依据所述测量电容列向量C<sup>m</sup>、系数矩阵K<sup>a</sup>和系数矩阵K<sup>b</sup>计算待测电容列向量C<sup>D</sup>的值。
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