发明名称 |
存储装置的容量检测方法 |
摘要 |
本发明公开了一种存储装置的容量检测方法,其包括:将不同的源数据写入所述存储装置的多个目标地址,其中各个目标地址中写入的源数据均互不相同;从所述存储装置的各个目标地址中读取数据,将从每个目标地址中读取的数据与写入对应目标地址的数据进行对比以确定它们是否一致,如果读取的数据与写入的数据不都一致,则认为所述存储装置的容量不真实。本发明中的容量检测方法中,不需要对每个地址都进行读写检验,而是抽取相间隔的地址进行读写检验,这样速度大大加快,并且准确度并未显著降低。 |
申请公布号 |
CN103116536B |
申请公布日期 |
2016.02.24 |
申请号 |
CN201310058540.0 |
申请日期 |
2013.02.25 |
申请人 |
杭州华澜微电子股份有限公司 |
发明人 |
付建云;麻伟建;杨春华 |
分类号 |
G06F11/22(2006.01)I |
主分类号 |
G06F11/22(2006.01)I |
代理机构 |
无锡互维知识产权代理有限公司 32236 |
代理人 |
王爱伟 |
主权项 |
一种存储装置的容量检测方法,其特征在于,其包括:将不同的源数据写入所述存储装置的多个目标地址,其中各个目标地址中写入的源数据均互不相同;从所述存储装置的各个目标地址中读取数据,将从每个目标地址中读取的数据与写入对应目标地址的数据进行对比以确定它们是否一致,如果读取的数据与写入的数据不都一致,则认为所述存储装置的容量不真实,如果读取的数据与写入的数据都一致,则继续进行如下操作:步骤A,将所述存储装置二分得到两个待分析存储区;步骤B,从每个待分析存储区的一个地址处读取数据,将从每个待分析存储区中读取的数据与所有的源数据逐一进行对比,将从其内读取的数据的部分或全部与所有源数据中的一个相同的待分析存储区称为映射存储区,将从其内读取的数据的部分或全部与所有源数据都不相同的待分析存储区称为准真实存储区,如果此次对比发现有映射存储区,则认为所述存储装置的容量不真实,如果此次对比没有发现有映射存储区,则进入步骤C;步骤C,判断是否是连续N次判定没有映射存储区,若是,则认为所述存储装置的容量是真实的,若否,则继续对每个准真实存储区再次二分得到多个待分析存储区,并返回步骤B,N大于等于1。 |
地址 |
311200 浙江省杭州市萧山区建设一路66号华瑞中心1号楼22层 |