发明名称 |
提高LED抗静电能力的外延生长方法及其外延结构 |
摘要 |
本发明提供了一种提高LED抗静电能力的外延生长方法及其外延结构,由下至上依次包括衬底、低温缓冲GaN层、不掺杂GaN层、N型GaN层、GaN层、多量子阱发光层、电子阻挡层和P型GaN层,其中,GaN层从下至上依次包括,厚度为47-52nm的掺杂Si的第一GaN层,厚度为98-103nm掺杂Si的AlGaN层,厚度为18-22nm的掺杂Si的第二GaN层,三层总体厚度为160-190nm。本发明采用高温、氢气氛围生长的GaN/AlGaN含Si的GaN复合层取代了传统的GaN含Si的InGaN:Si复合层,弥补了传统的结构位错密度高、晶体质量差的缺点,保持Si的掺杂曲线,并缩短生产时间。 |
申请公布号 |
CN103413880B |
申请公布日期 |
2016.02.24 |
申请号 |
CN201310389279.2 |
申请日期 |
2013.08.30 |
申请人 |
湘能华磊光电股份有限公司 |
发明人 |
张宇 |
分类号 |
H01L33/14(2010.01)I;H01L33/00(2010.01)I |
主分类号 |
H01L33/14(2010.01)I |
代理机构 |
长沙七合源专利代理事务所(普通合伙) 43214 |
代理人 |
欧颖 |
主权项 |
一种提高LED抗静电能力的外延生长方法,其特征在于,包括衬底处理、生长低温缓冲GaN层、生长不掺杂GaN层、生长N型GaN层、生长GaN层、生长多量子阱发光层、生长电子阻挡层、生长P型GaN层步骤,其中生长GaN层步骤具体为:A、在1200‑1300℃、500mbar压力、氢气气氛的反应室内,生长一层厚度为47‑52nm的掺杂Si的GaN层,Si的掺杂浓度为5E+18‑7E+18atom/cm<sup>3</sup>;B、在上述掺杂Si的GaN层基础上,生长一层厚度为98‑103nm的掺杂Si的AlGaN层,Si的掺杂浓度为1E+17‑3E+17atom/cm<sup>3</sup>,Al的掺杂浓度为1E+20‑2E+20atom/cm<sup>3</sup>;C、在上述掺杂Si的AlGaN层基础上,生长一层厚度为18‑22nm的掺杂Si的GaN层,Si的掺杂浓度为1E+17‑3E+17atom/cm<sup>3</sup>;步骤A、B、C所生长的三层的总生长时间为4‑5min;总体厚度为160‑190nm。 |
地址 |
423038 湖南省郴州市白露塘有色金属产业园 |