发明名称 |
一种激光波长修正式角反射镜激光干涉仪及测量方法 |
摘要 |
本发明涉及一种精密测试技术及仪器领域,特别涉及一种激光波长修正式角反射镜激光干涉仪及测量方法,所述激光波长修正式角反射镜激光干涉仪,包括激光源、固定角反射镜、光电探测器、测量角反射镜装置和分光镜,所述测量角反射镜装置包括测量角反射镜和精密位移装置,所述精密位移装置为所述测量角反射镜提供与被测物体位移同向或反向的位移。本申请中,将被测物体实际位移中超出半个激光波长的小数部分△L也测量出来补充到位移检测结果中,进而使得本申请的激光干涉仪所测量得到的位移结果更加精确,同时在距离测量过程中,精密位移装置进行若干整数波长精确位移,通过精确的距离反求环境等效激光波长,进一步提高本发明激光干涉仪的测量精度。 |
申请公布号 |
CN105352435A |
申请公布日期 |
2016.02.24 |
申请号 |
CN201510852430.0 |
申请日期 |
2015.11.27 |
申请人 |
成都信息工程大学 |
发明人 |
许诚昕;马文英;凌味未;黄金;张白 |
分类号 |
G01B9/02(2006.01)I;G01B11/02(2006.01)I |
主分类号 |
G01B9/02(2006.01)I |
代理机构 |
四川力久律师事务所 51221 |
代理人 |
韩洋 |
主权项 |
一种激光波长修正式角反射镜激光干涉仪,其特征在于,包括激光源、固定角反射镜、光电探测器、测量角反射镜装置和分光镜,所述测量角反射镜装置包括测量角反射镜与精密位移装置,所述激光源射出的激光束经所述分光镜后分为第一激光束和第二激光束,第一激光束射向所述固定角反射镜,经所述固定角反射镜反射后再次射向所述分光镜,再经分光镜后射向所述光电探测器,第二激光束射向所述测量角反射镜,经所述测量角反射镜反射后再次射向所述分光镜,经分光镜后射向所述光电探测器,第一激光束与第二激光束在射向所述光电探测器时发生干涉,所述测量角反射镜设置在所述精密位移装置上,所述精密位移装置设置在被测物体上,所述精密位移装置为所述测量角反射镜提供与被测物体位移同向或反向的位移。 |
地址 |
610225 四川省成都市西南航空港经济开发区学府路一段24号 |