| 发明名称 | 柱面透射弯晶分析器 | ||
| 摘要 | 一种柱面透射弯晶分析器，包括支撑台，所述支撑台一个侧面为抛光后的圆弧凸面，该圆弧凸面中心位置设有用于待测X射线穿过的第一矩形测量孔，该支撑台两侧设有对称的圆形沉孔，且所述支撑台的圆弧凸面贴合有抛光后的平面薄晶体，本实用新型平面薄晶体的表面面型精度较高，而且降低装配难度，有效地保护晶体表面不被伤害，同时使平面薄晶体弯曲半径可控制得很小，提高分析器的应用灵活性。 | ||
| 申请公布号 | CN205049497U | 申请公布日期 | 2016.02.24 |
| 申请号 | CN201520727433.7 | 申请日期 | 2015.09.18 |
| 申请人 | 中国工程物理研究院激光聚变研究中心 | 发明人 | 徐涛;刘慎业;苏明;范松如 |
| 分类号 | G01N23/207(2006.01)I | 主分类号 | G01N23/207(2006.01)I |
| 代理机构 | 重庆为信知识产权代理事务所(普通合伙) 50216 | 代理人 | 龙玉洪 |
| 主权项 | 一种柱面透射弯晶分析器，包括支撑台(1)，其特征在于：所述支撑台(1)一侧表面为经抛光的圆弧凸面，该圆弧凸面中心位置设有贯穿所述支撑台(1)的第一矩形测量孔(5)，该第一矩形测量孔(5)两侧对称设有固定用的沉孔(6)，所述支撑台(1)的圆弧凸面贴合有经抛光的平面薄晶体(2)。 | ||
| 地址 | 404100 重庆市江北区五简路10号 | ||