一种CMOS图像芯片测试方法

摘要

一种CMOS图像芯片测试方法，包括步骤：1：提供一种CMOS图像芯片测试系统，包括：上位机，测试板，光源，CMOS图像芯片；2：上位机设定调光命令值，向测试板发送调光命令；3：测试板通过D/A电路控制光源亮度；4：在光源亮度开始变化时，上位机控制CMOS图像芯片输出图像到测试板；5：上位机重设调光命令值，重复上述步骤2-4；6：测试板将采集到的图像数据输出到上位机，上位机收到图像数据后进行图像处理；7：上位机根据图像处理结果判定CMOS图像芯片是否存在点/线不良。本发明提供的CMOS图像传感器测试方法，通过对光源亮度变化进行程序控制，实现程序测试和画面亮度变化同步进行，对图像亮度变化时存在较淡的点和线的不良产品也能完全实现程序抓取。

主权项

一种CMOS图像芯片测试方法，其特征在于，包括如下步骤：步骤1：提供一种CMOS图像芯片测试系统，包括：上位机，测试板，光源，CMOS图像芯片；步骤2：上位机设定调光命令值，向测试板发送调光命令，其中，所述上位机的测试程序中设有一组调光命令值，所述调光命令值呈阶梯变化，通过测试板和D/A电路实现对光源亮度的阶梯变化控制；步骤3：测试板通过D/A电路控制光源亮度；步骤4：在光源亮度开始变化时，上位机控制CMOS图像芯片输出图像到测试板；步骤5：上位机重设调光命令值，重复上述步骤2‑4；步骤6：测试板将采集到的图像数据输出到上位机，上位机收到图像数据后进行图像处理；步骤7：上位机根据图像处理结果判定CMOS图像芯片是否存在点/线不良。