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经营范围
发明名称
制造半导体结构的方法
摘要
示提供制造半导体结构的方法,此方法包含形成第一光阻层于基底上,形成第二光阻层于第一光阻层之上,以及对第一光阻层和第二光阻层进行微影曝光制程,藉此在第一光阻层内形成第一潜在特征,并且在第二光阻层内形成第二潜在特征。
申请公布号
TWI523074
申请公布日期
2016.02.21
申请号
TW103100479
申请日期
2014.01.07
申请人
台湾积体电路制造股份有限公司
发明人
卢彦丞;石志聪;游信胜;陈政宏;严涛南
分类号
H01L21/027(2006.01)
主分类号
H01L21/027(2006.01)
代理机构
代理人
洪澄文;颜锦顺
主权项
一种制造半导体结构的方法,包括:形成一第一光阻层于一基底上;形成一第二光阻层于该第一光阻层之上;以及对该第一光阻层和该第二光阻层进行一微影曝光制程,藉此在该第一光阻层内形成一第一潜在特征,并且在该第二光阻层内形成一第二潜在特征,其中在朝向该基底的一上视图中,该第二潜在特征与该第一潜在特征重叠。
地址
新竹市新竹科学工业园区力行六路8号
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