发明名称 制造半导体结构的方法
摘要 示提供制造半导体结构的方法,此方法包含形成第一光阻层于基底上,形成第二光阻层于第一光阻层之上,以及对第一光阻层和第二光阻层进行微影曝光制程,藉此在第一光阻层内形成第一潜在特征,并且在第二光阻层内形成第二潜在特征。
申请公布号 TWI523074 申请公布日期 2016.02.21
申请号 TW103100479 申请日期 2014.01.07
申请人 台湾积体电路制造股份有限公司 发明人 卢彦丞;石志聪;游信胜;陈政宏;严涛南
分类号 H01L21/027(2006.01) 主分类号 H01L21/027(2006.01)
代理机构 代理人 洪澄文;颜锦顺
主权项 一种制造半导体结构的方法,包括:形成一第一光阻层于一基底上;形成一第二光阻层于该第一光阻层之上;以及对该第一光阻层和该第二光阻层进行一微影曝光制程,藉此在该第一光阻层内形成一第一潜在特征,并且在该第二光阻层内形成一第二潜在特征,其中在朝向该基底的一上视图中,该第二潜在特征与该第一潜在特征重叠。
地址 新竹市新竹科学工业园区力行六路8号