发明名称 电子元件测试基座之浮动缓冲机构
摘要 明关于一种电子元件测试基座之浮动缓冲机构,包括:盖体、本体、弹性垫、滑移件、测试基座及容置座。盖体具有连结至气压泵之入气孔。本体具有一容置空间及复数个定位槽,本体与盖体对应相结合。弹性垫夹设于盖体与本体间并覆盖容置空间,以界定出盖体与弹性垫间之一气密空间。滑移件包括复数个定位柱,藉由每一定位柱对应每一定位槽容设于容置空间内,滑移件可纵向滑移。测试基座系连结于滑移件之底部,具有至少一测试针组。容置座与测试基座对应结合设置,包括有对应于每一测试针组之一容置槽,其可容置有一待测电子元件。
申请公布号 TWI523143 申请公布日期 2016.02.21
申请号 TW102133145 申请日期 2013.09.13
申请人 京元电子股份有限公司 发明人 李欣哲;詹勋亮;颜泽询;罗伟诚;李昱明
分类号 H01L21/683(2006.01);G01R31/26(2014.01) 主分类号 H01L21/683(2006.01)
代理机构 代理人 吴冠赐;林志鸿
主权项 一种电子元件测试基座之浮动缓冲机构,包括:一盖体,具有一连结至一气压泵之入气孔;一本体,具有一容置空间及复数个定位槽,该本体系与该盖体对应相结合;一弹性垫,系夹设于该盖体与该本体之间,并覆盖该容置空间,用以界定出该盖体与该弹性垫间之一气密空间;一滑移件,包括复数个定位柱,该滑移件系藉由每一定位柱对应每一定位槽容设于该容置空间内,并位于该弹性垫之下方,且该滑移件可纵向滑移;一测试基座,系连结于该滑移件之底部并位于该本体之下方,具有至少一测试针组;以及一容置座,与该测试基座对应结合设置,包括有对应于每一测试针组之一容置槽,用以容设一电子元件。
地址 新竹市公道五路2段81号