| 摘要 |
본 발명은 테스트용 도피공간을 구비한 심 카드 소켓에 관한 것으로서, 보다 상세하게는 소켓 하우징에 접촉 단자부가 외측으로 돌출되지 않도록 하는 테스트용 도피공간을 별도로 형성시킴으로써, 제품 조립 후의 테스트시 용이하게 단자 접촉 테스트를 수행할 수 있음과 아울러, 종래와 같이 상측으로 돌출된 심 카드용 접촉 단자를 테스트하지 않게 되어 외력에 의해 발생되는 심 카드용 접촉 단자의 손상을 원천적으로 방지할 수 있는 테스트용 도피공간을 구비한 심 카드 소켓에 관한 것이다. |
