用于高纵深比PCB板孔缺陷检测的光源装置

摘要

本发明提供两种用于高纵深比PCB板孔缺陷检测的光源装置，其中一种包括：均匀分布在PCB板下方的LED光源颗粒；位于PCB板和LED光源颗粒之间的X方向角度选择元件和Y方向汇聚元件。另一种包括：均匀分布在PCB板下方的LED光源颗粒；LED光源颗粒之上的菲涅尔透镜阵列。本方案通过在PCB板和LED光源颗粒之间设置X方向角度选择元件和Y方向汇聚元件或者菲涅尔透镜阵列，实现进入PCB板中的光线均为小角度光线，减小因板厚的增加，孔壁对大角度光的散射作用，解决高纵深比孔径检测中大小孔成像不一致的问题。

主权项

一种用于高纵深比PCB板孔缺陷检测的光源装置，用于检测PCB板孔(13)的孔缺陷，其特征在于，所述用于高纵深比PCB板孔缺陷检测的光源装置包括：LED光源颗粒(1)，所述LED光源颗粒(1)均匀分布在所述PCB板孔(13)的下方；X方向角度选择元件(2)和Y方向汇聚元件(3)，所述X方向角度选择元件(2)和所述Y方向汇聚元件(3)均位于所述孔(13)和所述LED光源颗粒(1)之间。