发明名称 | 一种复合结构SiC衬底器件的切割方法 | ||
摘要 | 本发明是一种复合结构SiC芯片的切割方法,采用砂轮切割在划片槽区域把复合结构SiC芯片进行切割分离。通过先形成复合结构SiC芯片完成圆片;再测量其厚度;把SiC芯片完成圆片贴在切割片架上的蓝膜或UV膜上;测量其总厚度;应用第一切割条件切割开多层介质到SiC外延层,再针对SiC衬底应用第二切割条件切割到SiC衬底中,应用第三切割条件切割到SiC衬底与背面金属界面处,最后应用第四切割条件切割到背面多层金属厚度的1/2处,最终裂片分离SiC芯片。优点:可以很安全地实现复合结构SiC芯片的切割分离,有效减小复合结构中多层介质、SiC衬底及外延层、背面金属的崩边及损伤,提高SiC芯片的良品率和切割效率。 | ||
申请公布号 | CN105336686A | 申请公布日期 | 2016.02.17 |
申请号 | CN201510636025.5 | 申请日期 | 2015.09.30 |
申请人 | 中国电子科技集团公司第五十五研究所 | 发明人 | 刘昊;陈刚;柏松 |
分类号 | H01L21/78(2006.01)I | 主分类号 | H01L21/78(2006.01)I |
代理机构 | 南京君陶专利商标代理有限公司 32215 | 代理人 | 沈根水 |
主权项 | 复合结构SiC芯片的切割方法,其特征在于,该方法包括以下步骤:1)在一层或多层SiC外延片(103)上制备SiC芯片,从而形成复合结构SiC芯片完成圆片;2)测量SiC芯片完成圆片切割道区域的厚度;3)把SiC芯片完成圆片贴在切割片架上的蓝膜或UV膜上;4)测量SiC芯片完成圆片切割道区域加蓝膜或UV膜的总厚度;5)应用第一切割条件处理第一层钝化介质(101)和第二层钝化介质(102)在所述一层或多层SiC外延片(103)上,切割第一预定厚度的沟槽;6)应用第二切割条件处理一层或多层SiC外延片(103),切割第二预定厚度的沟槽;7)应用第三切割条件处理一层或多层SiC外延片(103),切割第三预定厚度的沟槽;8)应用第四切割条件处理多层金属(104、105、106、107),切割第四预定厚度的沟槽;9)经过所述第一、第二、第三、第四切割处理后,采用裂片方法,所述SiC芯片被分离;所述的步骤5)、步骤6)、步骤7)、步骤8)的切割条件所要求的设备的主轴功率2000~5000W;切割水流角度在135°‑165°;切割水流量1L/min‑2L/min。 | ||
地址 | 210016 江苏省南京市中山东路524号 |