| 发明名称 | 测试键结构与测试键群组 | ||
| 摘要 | 一种测试键结构与测试键群组，该测试键结构包含有多个晶体管，设置在一晶圆的一切割道内，且排列成一2×N阵列，该2×N阵列包含有二直行与N横列。该等晶体管分别包含一栅极、一源极、一漏极与一基体，且该等晶体管的该等源极全部彼此电性连接。 | ||
| 申请公布号 | CN105336731A | 申请公布日期 | 2016.02.17 |
| 申请号 | CN201410394926.3 | 申请日期 | 2014.08.12 |
| 申请人 | 联华电子股份有限公司 | 发明人 | 王建国;侯俊良;廖文荣 |
| 分类号 | H01L23/544(2006.01)I;H01L21/66(2006.01)I | 主分类号 | H01L23/544(2006.01)I |
| 代理机构 | 北京市柳沈律师事务所 11105 | 代理人 | 史新宏 |
| 主权项 | 一种测试键结构，包含有：多个晶体管，设置在晶圆的切割道内，且排列成2*N阵列，该2*N阵列包含有二直行与N横列，且所述晶体管分别包含栅极、源极、漏极与基体，其中所述晶体管的所述源极全部彼此电性连接。 | ||
| 地址 | 中国台湾新竹市新竹科学工业园区 | ||