发明名称 |
测定气化烃原料的露点的方法 |
摘要 |
本发明提供测定气化烃原料的露点的方法,该方法包括:a)提供烃原料和非烃质稀释剂;b)加热烃原料和稀释剂到第一温度并维持烃原料和稀释剂在第一温度下,直到所有烃原料被气化,并获得烃原料和稀释剂的均匀混合物;c)使所述混合物的第一流经过维持在第二温度下的第一区,第二温度低于第一温度;d)停止第一流;e)使含非烃质吹扫气体的第二流经过第一区,并给适合于检测烃存在的检测器提供离开第一区的吹扫气体;f)降低第一区的温度,其中重复步骤(c)至(f),至少直到在吹扫气体内检测到烃的存在。本发明进一步提供测定蒸汽裂化器原料的露点的方法,和测定气化的烃原料的露点的系统。 |
申请公布号 |
CN103946706B |
申请公布日期 |
2016.02.17 |
申请号 |
CN201280056697.3 |
申请日期 |
2012.11.13 |
申请人 |
国际壳牌研究有限公司 |
发明人 |
J·布隆姆伯格;P·惠泽恩加;M·V·坎达维里;W·S·波斯图拉 |
分类号 |
G01N33/28(2006.01)I;G01N33/22(2006.01)I;G01N25/66(2006.01)I |
主分类号 |
G01N33/28(2006.01)I |
代理机构 |
中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 11038 |
代理人 |
张钦 |
主权项 |
一种测定气化烃原料的露点的方法,该方法包括:a)提供烃原料和非烃质稀释剂,所述非烃质稀释剂是在施加到第一区上的条件下以及在第一区和任何检测器之间存在的条件下为气体且为惰性的任何稀释剂,即,所述稀释剂在所施加的温度和压力条件下不与烃反应;b)加热所述烃原料和稀释剂到第一温度,并维持所述烃原料和稀释剂在第一温度下,直到所有烃原料被气化,并获得烃原料和稀释剂的均匀混合物;c)使所述混合物的第一流经过维持在第二温度下的第一区,其中第二温度低于第一温度;d)停止第一流;e)使含非烃质吹扫气体的第二流经过第一区,并将离开第一区的吹扫气体提供给适合于检测烃存在的检测器;f)降低第一区的温度,其中重复步骤(c)至(f),至少直到在吹扫气体内检测到烃的存在。 |
地址 |
荷兰海牙 |