发明名称 X-RAY DIFFRACTION APPARATUS AND X-RAY DIFFRACTION MEASUREMENT METHOD
摘要 시료의 평면영역으로부터 나온 X선을 공간적으로 기하학적 대응을 시켜서 평면적인 X선 토포그래프로서 검출하고 상기 X선 토포그래프를 신호로서 출력하는 X선 토포그래피 장치와, 시료의 평면영역의 광상을 수광하여 그 광상을 평면위치정보에 의하여 특정된 신호로서 출력하는 2차원 이미징 디바이스와, X선 토포그래프의 출력신호와 이미징 디바이스(6)의 출력신호에 의거하여 합성화상 데이터를 생성하는 화상합성용의 연산제어장치를 구비하는 X선 회절장치이다
申请公布号 KR101594794(B1) 申请公布日期 2016.02.17
申请号 KR20110127664 申请日期 2011.12.01
申请人 가부시키가이샤 리가쿠 发明人 오자와 데쓰야;마쓰오 류지;이나바 가쓰히코
分类号 G01N23/20 主分类号 G01N23/20
代理机构 代理人
主权项
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