发明名称 钨-锑-碲相变材料沉积方法及相变存储单元制备方法
摘要 本发明提供一种钨-锑-碲相变材料的原子层沉积方法及相变存储单元的制备方法,包括:1)在基底上引入SbCl<sub>3</sub>脉冲,清洗未被吸收的SbCl<sub>3</sub>,然后引入(R<sub>3</sub>Si)<sub>2</sub>Te脉冲,清洗未被吸收的(R<sub>3</sub>Si)<sub>2</sub>Te和反应副产物;2)引入H<sub>2</sub>与Si<sub>2</sub>H<sub>6</sub>混合脉冲,清洗残余的H<sub>2</sub>与Si<sub>2</sub>H<sub>6</sub>,然后引入WF<sub>6</sub>脉冲,清洗残余WF<sub>6</sub>和反应副产物;3)引入SbCl<sub>3</sub>脉冲,清洗残余的SbCl<sub>3</sub>,然后引入(R<sub>3</sub>Si)<sub>3</sub>Sb脉冲,清洗未被吸收的(R<sub>3</sub>Si)<sub>3</sub>Sb和反应副产物;4)重复上述步骤1)~2),或步骤1)~3),形成循环周期。基于本方法可制备出相应的相变存储单元。采用本发明方法制备的钨-锑-碲相变材料具有厚度精确可控,薄膜致密性好,填孔能力强的特点。采用这种方法制备的相变薄膜应用到存储器中,可实现高密度存储,同时可以获得低功耗的器件。
申请公布号 CN103898474B 申请公布日期 2016.02.17
申请号 CN201210579396.0 申请日期 2012.12.27
申请人 中国科学院上海微系统与信息技术研究所 发明人 宋三年;宋志棠;吴良才;饶峰;刘波;彭程;张中华
分类号 C23C16/44(2006.01)I;C23C16/52(2006.01)I;C23C16/30(2006.01)I;H01L45/00(2006.01)I 主分类号 C23C16/44(2006.01)I
代理机构 上海光华专利事务所 31219 代理人 余明伟
主权项 一种钨‑锑‑碲相变材料的原子层沉积方法,其特征在于,至少包括以下步骤:1)在基底上引入SbCl<sub>3</sub>脉冲,清洗未被吸收的SbCl<sub>3</sub>,然后引入(R<sub>3</sub>Si)<sub>2</sub>Te脉冲,清洗未被吸收的(R<sub>3</sub>Si)<sub>2</sub>Te和反应副产物;2)向上述基底引入H<sub>2</sub>与Si<sub>2</sub>H<sub>6</sub>混合脉冲,清洗残余的H<sub>2</sub>与Si<sub>2</sub>H<sub>6</sub>,然后引入WF<sub>6</sub>脉冲,清洗残余WF<sub>6</sub>和反应副产物;3)向上述基底引入SbCl<sub>3</sub>脉冲,清洗残余的SbCl<sub>3</sub>,然后引入(R<sub>3</sub>Si)<sub>3</sub>Sb脉冲,清洗未被吸收的(R<sub>3</sub>Si)<sub>3</sub>Sb和反应副产物;4)重复上述步骤1)~2),或步骤1)~3),形成循环周期。
地址 200050 上海市长宁区长宁路865号