发明名称 | 自动分析装置以及分析方法 | ||
摘要 | 提供一种根据在测定化学成分的浓度和酶的活性度时得到的反应过程数据,高精度地判定异常的有无的自动分析装置以及自动分析方法。用函数近似反应过程数据,计算表示反应初期的曲线部分的形状特征的特征量。使用得到的形状特征量判定异常的有无。 | ||
申请公布号 | CN102428373B | 申请公布日期 | 2016.02.17 |
申请号 | CN201080021726.3 | 申请日期 | 2010.05.10 |
申请人 | 株式会社日立高新技术 | 发明人 | 光山训;万里千裕;三村智宪;神原久美子 |
分类号 | G01N35/00(2006.01)I | 主分类号 | G01N35/00(2006.01)I |
代理机构 | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 11038 | 代理人 | 许海兰 |
主权项 | 一种自动分析装置,其特征在于包括:反应容器;第1分注单元,向上述反应容器中分注试样;第2分注单元,向上述反应容器中分注与所分注的试样进行反应的试剂;搅拌单元,在上述反应容器内混合上述试样和上述试剂;测定部,取得在上述试样与上述试剂的反应过程中的多个测定点数据;数据处理部,处理上述测定点数据;存储部,存储在上述数据处理部中使用的近似式;输出部,输出上述数据处理部的处理结果,上述数据处理部选择存储在上述存储部中的下述式4至式7的近似式之一来对上述多个测定点数据进行近似,使用从近似曲线得到的指标进行测定的异常判定,x=a×t+b+c×exp(‑k×t)......(式4)x=a×t+b+e/(t+d)......(式5)x=a×t+b+w/{exp(u×t)+v}......(式6)x=a×t+b+p×log{1+q×exp(r×t)}......(式7)其中,a、b、c、d、e、k、p、q、r、u、v、w为参数,t表示时间。 | ||
地址 | 日本东京都 |