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发明名称 Ｘ線検査装置
摘要
申请公布号 JP5860347(B2) 申请公布日期 2016.02.16
申请号 JP20120128867 申请日期 2012.06.06
申请人 アンリツインフィビス株式会社 发明人 金井 貴志;宮崎 格;森谷 淳一
分类号 G01N23/18 主分类号 G01N23/18
代理机构 代理人
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