发明名称 光学測定装置
摘要 光学的な性能による異常と構成上の不具合による異常とを正確に判別することができる光学測定装置を提供する。光学測定装置2は、照明ファイバ31を介して測定対象物へ照明光を出射する光源部22と、第1受光ファイバ32を介して測定対象物で反射した照明光の戻り光を受光する第1受光部24と、第1受光ファイバ32を介して第1受光部24が受光した照明光の照射対象となる反射指標部材で反射した照明光に基づく拡散光、および、外部から入射される光を均一な光として透過させる拡散指標部材と第1受光ファイバ32とを介して第1受光部24が受光した外部から入射される光に基づく拡散光それぞれの複数の測定値に基づいて、測定履歴の特性を演算する演算部291と、を備える。
申请公布号 JP5861021(B1) 申请公布日期 2016.02.16
申请号 JP20150552944 申请日期 2015.03.31
申请人 オリンパス株式会社 发明人 鳥山 誠記;小林 至峰;伊藤 誠悟
分类号 A61B1/06;A61B1/00 主分类号 A61B1/06
代理机构 代理人
主权项
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