发明名称 INSPECTION DEVICE AND INSPECTION METHOD FOR MEMBER HAVING FINE UNEVEN STRUCTURE ON SURFACE THEREOF MANUFACTURING METHOD FOR MEMBER HAVING ANODIC ALUMINA LAYER ON SURFACE THEREOF AND MANUFACTURING METHOD FOR OPTICAL FILM
摘要 양극 산화 알루미나의 표면의 미세 요철 구조의 형상이나 양극 산화 알루미나의 두께를 간단하게 검사할 수 있는 검사 장치 및 검사 방법 등을 제공하는 것. 발명의 양극 산화 알루미나의 검사 장치는, 검사 대상의 양극 산화 알루미나에 광을 조사하는 조사 수단(22)과, 편광 수단을 통과한 광을 촬상하는 촬상 수단(24)과, 조사 수단으로부터 조사된 광을 편광시키는 편광 수단(28)과, 촬상 수단에 의해 촬상된 화상으로부터 얻어진 색정보에 근거하여 양극 산화 알루미나의 상태의 양부를 판정하는 화상 처리 수단(26)을 구비하고 있는 것을 특징으로 한다.
申请公布号 KR101593856(B1) 申请公布日期 2016.02.12
申请号 KR20147005180 申请日期 2012.09.26
申请人 미쯔비시 레이온 가부시끼가이샤 发明人 후쿠야마 미츠후미;이시마루 데루타;마츠바라 유우지
分类号 G01B11/30;G01N21/88 主分类号 G01B11/30
代理机构 代理人
主权项
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