发明名称 METHOD APPARATUS FOR DETECTING REASON FOR LEAK FAULT IN PLASMA ETCHING AND PLASMA ETCHING DEVICE USING THE SAME
摘要 플라즈마 식각 공정에서 리크 원인을 검출하는 방법, 장치 및 그를 이용한 플라즈마 식각 장치가 제공된다. 본 발명에 따른 플라즈마 식각 공정에서 리크(leak)의 원인을 검출하는 방법은 상기 식각 공정 중 플라즈마 생성 챔버 내로 주입된 제 1 가스에 대한 광학적 분석 데이터를 생성하는 단계, 상기 광학적 분석 데이터로부터 제 2 가스에 대한 정량적 분석을 수행하는 단계 및 상기 제 2 가스에 대한 정량적 분석 결과에 근거하여, 상기 챔버 내에 존재하는 제 2 가스의 유입 원인을 결정하는 단계를 포함하되, 상기 제 2 가스는 상기 제 1 가스 주입 시 상기 리크(leak)로 인해 상기 플라즈마 생성 챔버 내로 유입되는 가스 종(種)인 것을 특징으로 한다.
申请公布号 KR101593305(B1) 申请公布日期 2016.02.11
申请号 KR20140060608 申请日期 2014.05.20
申请人 명지대학교 산학협력단 发明人 홍상진;이호재;최소망
分类号 H01L21/3065;H01L21/66 主分类号 H01L21/3065
代理机构 代理人
主权项
地址