发明名称 半导体元件及其制造方法
摘要 半导体元件的制造方法,包括下列步骤。首先,提供基底,基底上已形成有第一介电层,第一介电层中具有沟渠,于沟渠两侧的基底中已形成有源极/汲极区,且于沟渠中的基底上已形成有第二介电层。接着,进行一个第一物理气相沈积制程,以于沟渠中形成一含Ti金属层。然后,进行一个第二物理气相沈积制程,以于沟渠中的含Ti金属层上形成一Al层。接下来,进行一个热制程,使含Ti金属层与Al层进行热回火,以形成功函数金属层。之后,形成填满沟渠的金属层。
申请公布号 TWI521608 申请公布日期 2016.02.11
申请号 TW100118287 申请日期 2011.05.25
申请人 联华电子股份有限公司 发明人 黄信富;林坤贤;许启茂;蔡旻錞;李宗颖;林进富
分类号 H01L21/336(2006.01);H01L21/28(2006.01);H01L29/78(2006.01) 主分类号 H01L21/336(2006.01)
代理机构 代理人 詹铭文;叶璟宗
主权项 一种半导体元件的制造方法,包括:提供一基底,该基底上已形成有一第一介电层,该第一介电层中具有一沟渠,于该沟渠两侧的该基底中已形成有一源极/汲极区,且于该沟渠中的该基底上已形成有一第二介电层;进行一第一物理气相沈积制程,以于该沟渠中形成一含Ti金属层;进行一第二物理气相沈积制程,以于该沟渠中的该含Ti金属层上形成一Al层;进行一热制程,使该含Ti金属层与该Al层进行热回火,以形成一功函数金属层;以及形成填满该沟渠的一金属层。
地址 新竹市新竹科学工业园区力行二路3号