用于未编程之一次编程记忆体阵列的测试格

摘要

格系包括在一次编程(OTP)记忆体阵列中，其用来侦测会造成一潜在的瑕疵记忆体阵列之半导体制程失准。测试格系在与正常OTP格相同的时间制造，除了在一个维度上的尺寸较小之外，以侦测这个维度的光罩不准。任何无法被编程的已制造之测试格表示已发生一层制造光罩不准且不应使用OTP记忆体阵列。

主权项

一种一次编程(OTP)记忆体阵列，包含：数列未编程之OTP格，各个该等未编程之OTP格具有一第一主动区及具有第一长度尺寸，沿着通道长度方向从位元线接点延伸至该第一主动区的一边；及一列未编程之测试OTP格，各个该等未编程之测试OTP格具有小于该第一主动区的第二主动区。