一种修复TFT面板阵列T形缺陷的测试结构

摘要

本实用新型提供一种修复TFT面板阵列T形缺陷的测试结构，包括：支撑件和连接件；所述支撑件包括支撑平台和安装在所述支撑平台上的缓冲层和支撑柱；所述缓冲层上承载有待修复的非晶硅TFT面板阵列，所述非晶硅TFT面板阵列具有第一表面和第二表面，所述第一表面形成有闪烁体层，所述闪烁体层与所述缓冲层物理接触；所述连接件包括柔性电路板和信号处理电路板，所述信号处理电路板由所述支撑柱所支撑。本实用新型通过在支撑平台上设置支撑件，再利用柔性电路板和信号处理电路板，使非晶硅TFT面板阵列能够倒置于支撑平台上，从而将使激光可以从非晶硅TFT面板阵列的背面入射，找到并隔离修复受损像素点，这样能够避免返工，提升产品合格率，保证产品的品质。

主权项

一种修复TFT面板阵列T形缺陷的测试结构，其特征在于，所述测试结构至少包括：支撑件和连接件；所述支撑件包括支撑平台和安装在所述支撑平台上的缓冲层和支撑柱；所述缓冲层上承载有待修复的非晶硅TFT面板阵列，所述非晶硅TFT面板阵列具有第一表面和第二表面，所述第一表面形成有闪烁体层，所述闪烁体层与所述缓冲层物理接触；所述连接件包括与所述非晶硅TFT面板阵列电连的柔性电路板、和与所述柔性电路板电连的信号处理电路板，所述信号处理电路板由所述支撑柱所支撑。