发明名称 一种材料光谱发射率测量装置
摘要 本实用新型公开了一种材料光谱发射率测量装置,样品加热装置与黑体炉连接,黑体炉与电动平移台连接,电动平移台上设置有电动转台,电动平移台与计算机连接,温度控制器与电动转台连接,锁相放大器分别与探测器、斩波器、计算机连接,探测器与单色仪连接,单色仪一端与滤光片轮连接,一端与计算机连接,有利于测量光谱发射率选择性强的材料,易于检测,测量模型简明,在理论上适于建立高精度计量标准,采用新的测温热电偶分度方法减小了发射率测量的不确定度,整套装置实现了对物体光谱发射率测量系统的参数设置,自动测量,以及一定的数据处理能力和自动保存功能提高了装置测量水平。
申请公布号 CN205027658U 申请公布日期 2016.02.10
申请号 CN201520832078.X 申请日期 2015.10.19
申请人 华北理工大学 发明人 高水静;彭雷
分类号 G01N21/25(2006.01)I 主分类号 G01N21/25(2006.01)I
代理机构 代理人
主权项 一种材料光谱发射率测量装置,其特征在于:其包括样品加热装置、黑体炉、温度控制器、镀金球面反射镜、镀金平面反射镜、斩波器、滤光片轮、单色仪、探测器、锁相放大器、电动平移台、电动转台、计算机,所述电动平移台上设置有电动转台,所述电动转台上设置有样品加热装置、黑体炉,所述样品加热装置与黑体炉连接,所述黑体炉与电动平移台连接,所述电动平移台与计算机连接,所述温度控制器与电动转台连接,所述锁相放大器分别与探测器、斩波器、计算机连接,所述探测器与单色仪连接,所述单色仪一端与滤光片轮连接,所述单色仪的另一端与计算机连接。
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