发明名称 | 宽频存储器测试装置及其存储器测试方法 | ||
摘要 | 本发明公开了一种宽频存储器测试装置及其存储器测试方法。通道信号压缩单元具有多个通道信号压缩模式,其中通道信号压缩模式分别对应不同的通道信号压缩比。控制单元依据压缩比控制信号控制通道信号压缩单元压缩通道信号的通道信号压缩比。本发明能降低存储器的测试时间,提高存储器的测试效率的目的。 | ||
申请公布号 | CN105321580A | 申请公布日期 | 2016.02.10 |
申请号 | CN201410309434.X | 申请日期 | 2014.07.01 |
申请人 | 华邦电子股份有限公司 | 发明人 | 林哲民;梁志玮 |
分类号 | G11C29/56(2006.01)I | 主分类号 | G11C29/56(2006.01)I |
代理机构 | 隆天知识产权代理有限公司 72003 | 代理人 | 郝新慧;章侃铱 |
主权项 | 一种宽频存储器测试装置,包括:多个测试通道,耦接至一存储器单元;一通道信号压缩单元,耦接所述多个测试通道,压缩所述多个测试通道输出的多个通道信号而产生至少一故障测试信号,并将该至少一故障测试信号输出至一测试垫单元,其中该通道信号压缩单元具有多个通道信号压缩模式,所述多个通道信号压缩模式分别对应不同的通道信号压缩比;以及一控制单元,耦接该通道信号压缩单元,依据一第一压缩比控制信号控制该通道信号压缩单元压缩所述多个通道信号时的通道信号压缩比。 | ||
地址 | 中国台湾台中市大雅区科雅一路8号 |