发明名称 | 序列检测方法及装置 | ||
摘要 | 本发明公开了一种序列检测方法及装置,所述方法包括:获取并行度为i的i路数据;存储第x个i路数据;接收第x+1个i路数据;将第x个i路数据及第x+1个i路数据形成第x个检测数据组;在n个中的每一个检测窗口内均提取所述检测数据组中连续分布的s路数据,形成n个数据段;将每一个所述数据段与本地序列进行相关运算;及依据所述相关运算的结果确定该数据段是否为目标序列;其中,所述x为不小于1的整数;所述第i为不小于2的整数;所述n小于等于所述i;所述s为不小于1的整数,且等于所述目标序列的比特数。 | ||
申请公布号 | CN105323055A | 申请公布日期 | 2016.02.10 |
申请号 | CN201410309610.X | 申请日期 | 2014.06.30 |
申请人 | 深圳市中兴微电子技术有限公司 | 发明人 | 何开江;彭俊峰 |
分类号 | H04L7/00(2006.01)I | 主分类号 | H04L7/00(2006.01)I |
代理机构 | 北京派特恩知识产权代理有限公司 11270 | 代理人 | 任媛;张颖玲 |
主权项 | 一种序列检测方法,其特征在于,所述方法包括:获取并行度为i的i路数据;将第x个i路数据及第x+1个i路数据形成第x个检测数据组;在n个中的每一个检测窗口内均提取所述检测数据组中连续分布的s路数据,形成n个数据段;将每一个所述数据段与本地序列进行相关运算;依据所述相关运算的结果确定该数据段是否为目标序列;其中,所述x为不小于1的整数;所述第i为不小于2的整数;所述n小于等于所述i;所述s为不小于1的整数,且等于所述目标序列的比特数。 | ||
地址 | 518085 广东省深圳市盐田区大梅沙1号厂房 |