发明名称 序列检测方法及装置
摘要 本发明公开了一种序列检测方法及装置,所述方法包括:获取并行度为i的i路数据;存储第x个i路数据;接收第x+1个i路数据;将第x个i路数据及第x+1个i路数据形成第x个检测数据组;在n个中的每一个检测窗口内均提取所述检测数据组中连续分布的s路数据,形成n个数据段;将每一个所述数据段与本地序列进行相关运算;及依据所述相关运算的结果确定该数据段是否为目标序列;其中,所述x为不小于1的整数;所述第i为不小于2的整数;所述n小于等于所述i;所述s为不小于1的整数,且等于所述目标序列的比特数。
申请公布号 CN105323055A 申请公布日期 2016.02.10
申请号 CN201410309610.X 申请日期 2014.06.30
申请人 深圳市中兴微电子技术有限公司 发明人 何开江;彭俊峰
分类号 H04L7/00(2006.01)I 主分类号 H04L7/00(2006.01)I
代理机构 北京派特恩知识产权代理有限公司 11270 代理人 任媛;张颖玲
主权项 一种序列检测方法,其特征在于,所述方法包括:获取并行度为i的i路数据;将第x个i路数据及第x+1个i路数据形成第x个检测数据组;在n个中的每一个检测窗口内均提取所述检测数据组中连续分布的s路数据,形成n个数据段;将每一个所述数据段与本地序列进行相关运算;依据所述相关运算的结果确定该数据段是否为目标序列;其中,所述x为不小于1的整数;所述第i为不小于2的整数;所述n小于等于所述i;所述s为不小于1的整数,且等于所述目标序列的比特数。
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