| 主权项 |
一种集成电路测试数据的处理方法，其特征在于包括以下步骤：(1)对待测批次的集成电路芯片按照各集成电路芯片的器件号进行N次测试，生成N个测试数据文件，N为正整数且N大于等于2；(2)将需要进行数据提取的测试数据文件的文件名、进行变化量计算的测试项目、变化量极限值和极限单位一次性记录在第一临时文件中；(3)根据所述第一临时文件中的需要进行数据提取的测试数据文件在步骤(1)中生成的多个测试数据文件找到对应的两个测试数据文件，在该两个对应的测试数据文件中，根据第一临时文件中的需要进行变化量计算的测试项目分别进行数据搜索，将目标数据提取出来；(4)将步骤(3)中提取出来的两个测试数据文件中的目标数据按照所述第一临时文件中的极限单位进行测试数据单位的变换，生成统一单位的测试数据并分别保存在第二临时文件和第三临时文件中；(5)将所述第二临时文件和第三临时文件中相同器件号下的相同测试项目下的数据进行变化量计算，将变化量计算结果写入第四临时文件；(6)将所述第一临时文件中的变化量极限值与第四临时文件中的变化量计算结果进行比较，若第四临时文件中的变化量计算结果小于等于所述第一临时文件中的变化量极限值，则将该变化量计算结果所对应的器件号、测试数据和变化量计算结果本身存储到总汇报表中；若第四临时文件的变化量计算结果大于所述第一临时文件中的变化量极限值，则将该变化量计算结果所对应的器件号、测试数据和变化量计算结果本身同时存储到总汇报表和未通过项目汇报表，且在总汇报表中相应的变化量计算结果后写入标志F；所述需要进行数据提取的测试数据文件的文件名为2个；所述步骤(1)中每个集成电路芯片在同一个测试数据文件中最多包含一次测试数据结果。 |
