发明名称 | 一种用于测量热电块体元件电阻的系统 | ||
摘要 | 本实用新型涉及一种用于测量热电块体元件电阻的系统,包括样品测试架、电源输出装置、电压测量装置及控制装置;所述热电块体元件放置于样品测试架上;所述电源输出装置通过所述样品测试架的两个导流电极与所述热电块体元件的两端面面接触;所述电压测量装置通过所述样品测试架的两个电压测量探针与所述热电块体元件的两端面点接触;所述控制装置控制所述电源输出装置使输出的电流通过所述两个导流电极均匀地流过所述热电块体元件,且控制所述电压测量装置通过所述两个电压测量探针测量所述热电块体元件的两端面的电压,并基于所述电流和所述电压计算所述热电块体元件的阻值。由此有利于提高器件制备的成品率并对规模化热电器件制备提供可靠保证。 | ||
申请公布号 | CN205027820U | 申请公布日期 | 2016.02.10 |
申请号 | CN201520757299.5 | 申请日期 | 2015.09.28 |
申请人 | 中国科学院上海硅酸盐研究所 | 发明人 | 廖锦城;唐云山;夏绪贵;吴汀;柏胜强;陈立东 |
分类号 | G01R27/08(2006.01)I | 主分类号 | G01R27/08(2006.01)I |
代理机构 | 上海瀚桥专利代理事务所(普通合伙) 31261 | 代理人 | 曹芳玲;姚佳雯 |
主权项 | 一种用于测量热电块体元件电阻的系统,其特征在于,该系统包括样品测试架、电源输出装置、电压测量装置及控制装置;所述热电块体元件放置于样品测试架上;所述电源输出装置通过所述样品测试架的两个导流电极与所述热电块体元件的两端面面接触;所述电压测量装置通过所述样品测试架的两个电压测量探针与所述热电块体元件的两端面点接触;所述控制装置控制所述电源输出装置使输出的电流通过所述两个导流电极均匀地流过所述热电块体元件,且控制所述电压测量装置通过所述两个电压测量探针测量所述热电块体元件的两端面的电压,并基于所述电流和所述电压计算所述热电块体元件的阻值。 | ||
地址 | 200050 上海市长宁区定西路1295号 |